【英文标准名称】:Walkingaidsmanipulatedbybotharms-Requirementsandtestmethods-Part3:Walkingtables(ISO11199-3:2005);GermanversionENISO11199-3:2005
【原文标准名称】:双臂操作的助步器.要求和试验方法.第3部分:步行台
【标准号】:DINENISO11199-3-2005
【标准状态】:现行
【国别】:德国
【发布日期】:2005-07
【实施或试行日期】:
【发布单位】:德国标准化学会(DIN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:安全;加标签;应用;步行支架;残废人;机械试验;疲劳试验;抗倾翻稳定性;负载能力;障碍;桌子;助步器;残疾人辅助器具;稳定性;制动试验;机械性能;定义;试验;安全要求;作标记;性能;附件;人类工效学;疲劳;规范(验收);静荷载;
【英文主题词】:
【摘要】:
【中国标准分类号】:C45
【国际标准分类号】:11_180_10
【页数】:32P;A4
【正文语种】:德语
【英文标准名称】:StandardTestMethodforTraceMetallicImpuritiesinElectronicGradeAluminumbyHighMass-ResolutionGlow-DischargeMassSpectrometer
【原文标准名称】:应用高质量分辩率辉光放电质谱计测定电子级铝中微量金属杂质的标准试验方法
【标准号】:ASTMF1593-1996
【标准状态】:作废
【国别】:美国
【发布日期】:1996
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国材料与试验协会(ASTM)
【起草单位】:ASTM
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:纯度;质谱学;铝;电子材料;使用;杂质;践射目标;高质量分辩率辉光放电质谱计;辉光放电质谱计;高纯度铝;电子级铝;微量金属杂质;试验
【英文主题词】:
【摘要】:
【中国标准分类号】:H61
【国际标准分类号】:77_040_30
【页数】:
【正文语种】:英语
基本信息
| 标准名称： | 半导体集成电路双极型门电路空白详细规范 |
| 英文名称： | Blank detail specification for semiconductor integrated circuit bipolar gates |
| 中标分类： |
电子元器件与信息技术 >>
微电路 >>
半导体集成电路 |
| 替代情况： | 作废;被GB/T 5965-2000 |
| 发布日期： | 1986-04-02 |
| 实施日期： | 1986-09-01 |
| 首发日期： | |
| 作废日期： | |
| 起草单位： | 全国集成电路标准化技术委员会基础分会和数字电路分会 |
| 出版日期： | |
适用范围
没有内容
前言
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目录
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引用标准
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所属分类： 电子元器件与信息技术 微电路 半导体集成电路